成都西野供應日本日立HITACHI連續(xù)型高精度ICP發(fā)光分光分析裝置PS3500DDⅡ

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產(chǎn)品名稱: 成都西野供應日本日立HITACHI連續(xù)型高精度ICP發(fā)光分光分析裝置PS3500DDⅡ

產(chǎn)品型號: PS3500DDⅡ

產(chǎn)品展商: 日本日立HITACHI

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簡單介紹

成都西野供應日本日立HITACHI連續(xù)型高精度ICP發(fā)光分光分析裝置PS3500DDⅡ 此款設(shè)備通過改良光學系統(tǒng)及樣品導入系統(tǒng)等，不僅具有本公司舊機型的高處理能力，而且還進一步提高了分辨率、精度和再現(xiàn)性。成都西野供應日本日立HITACHI連續(xù)型高精度ICP發(fā)光分光分析裝置PS3500DDⅡ

成都西野供應日本日立HITACHI連續(xù)型高精度ICP發(fā)光分光分析裝置PS3500DDⅡ 的詳細介紹

1. 高分辨率測量

通過對分光光學元件的精密加工以及對光學系統(tǒng)的優(yōu)化處理，以及基于直接驅(qū)動的掃描技術(shù)，使得此款設(shè)備不僅具有較高的處理能力，同時將波長分辨率(半峰寬)從本公司之前設(shè)備的0.0045nm提高到了世界高水準的0.003nm（掃描分辨率為0.00065nm）。

2. 精度?再現(xiàn)性

此款設(shè)備通過改良樣品導入系統(tǒng)等，提高了霧化樣品導入的穩(wěn)定性，在一小時的長期測量下再現(xiàn)性為　CV0.4%以下，提高了測量結(jié)果的可靠性。

3. 超直接驅(qū)動（Hyper Direct Drive)系統(tǒng)

此款設(shè)備使用Hyper Direct Drive，使得光柵的運轉(zhuǎn)速度比之前提高了10倍以上。僅需1秒鐘即可運轉(zhuǎn)全波譜領(lǐng)域?？煽s短測量時間，并且實現(xiàn)樣品消耗量的減少。此外，以直接驅(qū)動發(fā)動機作為控制技術(shù)，能夠以高分辨率提高定位精度及停止時的穩(wěn)定性，從而可以實現(xiàn)高精度的測量。

4. 操作性?維護性?運行成本

重新調(diào)整等離子體管內(nèi)的氣體配管及濾波器的配置，提高了操作及維護的方便性。另外，作為可選項，也可利用能夠?qū)r(氬)氣體消耗量減半的ActiveFlow系統(tǒng)，內(nèi)部標準專用分光器。

5. 高速掃描測量

Hyper Direct Drive僅需1秒就可以驅(qū)動光柵在全波長領(lǐng)域運轉(zhuǎn)。因此，在進行定性分析、定量測量的波長選擇等既定條件的測量時，測量時間顯著減少。定性分析時，處理方法也有所改變，所以，全元素定性分析所需的時間僅為之前的1/4，僅需約1分鐘就能完成對全元素的定性分析。

23元素混合標準液的全波長領(lǐng)域
光譜圖

6. 廣范圍波長掃描

借助小2pm的step，Hyper Direct Drive可以實現(xiàn)波長驅(qū)動。依據(jù)此技術(shù)，實現(xiàn)了獲取任意設(shè)定的廣域范圍內(nèi)的**連續(xù)光譜的功能。以此信息為依據(jù)，可進行定性判定、定量測量的波長選擇等。

420～460nm范圍的稀有金屬
稀土的分析譜線

7. 波長范圍的擴大

因為配備了Hyper Direct Drive，所以可通過高分辨的光柵（4320刻線/mm）測量460nm級別的波長。4320刻線/mm的光柵實現(xiàn)了世界高水準的分辨率0.0030nm，能夠應用于要求高分辨率的稀土測量。

8. 可適用于廣范圍波長

可以同時對波長范圍為130nm至850nm的元素進行分析，可測量氯、溴等鹵元素。

9. 光濾波器（可選）

通過光濾波器功能，可除去影響堿金屬的高感光化及目標光譜的有害光譜。

10. Active Flow　系統(tǒng)（可選）

11. 內(nèi)標分光器?。蛇x）

型號名稱	PS3510DDⅡ	PS3520DDⅡ	PS3520VDDⅡ	PS3520UVDDⅡ
分光器數(shù)	1ch	2ch	2ch	2ch
分光器內(nèi)氣體	凈化	凈化	真空	真空
載片方式	切爾尼-特納（Czerny-Turner）
波長范圍	160～850nm			130～850nm